应用笔记 (共137个)
Introduction：AN175主要介绍GD32A503/A513 系列 ECC 双位错误说明及常见处理办法。
Introduction：AN201主要介绍了在MCU主频高的情况下，可以采用FLASH模拟EEPROM来降低成本。本文介绍了一种采用FLASH模拟EEPROM的方法，实现了EEPROM按字节进行数据修改，可防止复位或掉电产生的数据丢失。
Introduction：AN194主要用于如何从GD32F4xx系列移植到GD32F5xx系列，以及有关注意事项。
Introduction：AN196主要介绍了在MCU主频高的情况下，可以采用FLASH模拟EEPROM来降低成本。本文介绍了一种采用FLASH模拟EEPROM的方法，实现了EEPROM按字节进行数据修改，可防止复位或掉电产生的数据丢失。
Introduction：AN163为MCU的硬件设计提供了一些硬件EMC防护设计的参考，旨在为优化MCU在产品应用过程中的EMC性能提供帮助。
Introduction：AN145主要用于介绍了GD32E235与GD32E230系列之间的外设接口、电气性能等差异。
Introduction：AN166旨在帮助用户通过文档了解GD32H7系列热设计。
Introduction：AN118介绍了GD32H7xx系列预授权固件安装（LFI）的使用流程及方法，同时也介绍了相关软件的操作流程。
Introduction：AN122介绍了GD32H7xx系列OSPI使用的方法，以及有关的工具软件和注意事项。
Introduction：AN051旨在帮助用户通过选择合适的TVS型号更好地解决产品ESD问题。
Introduction：AN186旨在帮助用户通过SEGGER Embedded studio for RISC-V（SES）IDE进行基于GD32VW553系列MCU的软件工程构建和开发。
Introduction： AN183 主要介绍了提高GD32L233xx系列EMC特性的方法。
Introduction：AN142 介绍了电机及其驱动系统中EMC的来源及一些改善方式，帮助用户快速了解并优化驱动系统中的重点电路。
Introduction：AN161 主要介绍了GD32F4xx系列I2S+DMA通信的各种帧格式使用方法和注意事项。
Introduction：AN167 介绍了GD32L233深度睡眠模式2的应用配置及操作流程，以满足低功耗系统的应用需求。
Introduction：GD32H7系列安全启动概述，介绍了安全启动流程、安全引导代码流程、签名验证和用户引导镜像验证流程。
Introduction：AN125 主要介绍了MCU芯片级RE测试方法及注意事项，帮助用户快速了解芯片级RE测试。
Introduction：AN121旨在帮助用户全面了解GD32H7xx系列MCU的安全架构，包括安全特性、安全安装及升级方案、安全启动和安全模式。
Introduction：AN159介绍了MCU芯片级ESD和系统级ESD测试方法以及测试等级之间的差异，帮助用户明确芯片级ESD和系统级ESD之间的不相关性。
Introduction：AN065介绍在GD32 MCU上移植FATFS文件系统的方法。
Introduction：AN113 提供GD32H7xx 系列安全存储管理方面的知识。该应用笔记的目的让开发者快速了解GD32H7xx系列的安全模式，了解基础安全服务的用法，加快产品开发进度。
Introduction：AN132 主要介绍了采用GD32A503系列MCU Data-Flash模拟EEPROM的方法。
Introduction：AN128 主要介绍了MCU系统级EFT测试方法和实验实施细节以及注意事项，帮助用户快速了解数据手册中EFT参数含义和测试细节。
Introduction：AN127 介绍了MCU系统级ESD测试方法和实验实施细节以及注意事项，帮助用户快速了解数据手册中ESD参数含义和测试细节。
Introduction：AN089介绍了触摸按键（TouchKey）软件库的设计原理以及使用方式，能够帮助开发者快速地使用TouchKey软件库进行工程配置和开发。
